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2024.07.19_用於DRAM與DIMM特性和測試的ATE 測試平台
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Introspect technology M5512 GDDR7 記憶體測試系統平台是一款開創性的DRAM解決方案，可基於JEDEC GDDR7的積體電路進行特性化、表徵化和功能測試。提供高速、雙向 PAM3 訊號、低速 NRZ 信號和完整的協議訓練能力，是幫助業界讓DRAM產品Time to Market的最佳工具。
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Key Features :
- 完整的記憶體測試：連接到單一GDDR顆粒中的所有通道，從而提供所有通道的測試覆蓋範圍。
- 可編程供電電源：精確編程對DRAM的供電和斷電流程
- 卓越的訊號完整性：世界級的頂針元件可在 PAM3 模式下以 40 Gbps 的速度運行。
- 交流特性：PS等級解析度的時序與mV解析度 shmoo功能。
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Key Benefits :
- 最快的上市時間：深度執行記憶體讀取&寫入操作並測試出電氣特性以及時序規範。
- 最強大的 PAM3 訊號傳輸：利用多年的 SerDes 技術專業知識，完整的保護GDDR7以及PAM3的訊號規範的要求。
- 自動化：軟體控制環境非常適合編排任務、驗證以及設備與系統間的自動化整合控制。
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Access to every pin and every memory cell
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The M5512 includes an integrated test board for easy DUT attachment.
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需要獲得更多更完整的DRAM與DIMM相關測試資訊，歡迎隨時與我們聯繫!!
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