2024.11.27_如何進行一站式NAND特性化測試與分析

 

       NPlusT Nanocycler NAND 特性分析儀是一站式的NAND特性測試平台,

NplusT2002年起就專注於Memory測試,其針對研發中心的NAND特性分析設備也獲得業內眾多SSD Controller公司以及學術單位的採用。NplusT提供的測試數據後處理以及大數據分析軟體也得到了眾多客戶的好評。NAND特性分析設備也支持了業內常用的Kioxia, Micron, Sandisk, WDCNAND供應商所提供各種封裝的NAND

NanoCycler可應用在以下的NAND測試中:

- NAND characterization

- NAND lifetime extension

- ECC/LDPC analysis

- Reliability testing

- Incoming inspection

- Production lot qualification

- Media management validation

NanoCycler 主要功能和應用包含:

Features: 

- 依照Socket所進行的測試,可以針對每個Socket進行獨立的測試。

- 可進行最高 2.4GT/秒的全速測試,確保待測物在模擬應用的環境中運行。

提供完整的ONFI 5.0命令集、供應商特定命令並可透過Python來進行NAND

   的老化測試。

- 可編輯的高解析度電源(10 mV),以驗證電壓偏移的容忍度。

- 高達 50 ns採樣率和 1 mA解析度,可以完整捕獲每個電源的功耗,並記錄測  

   試期間的平均與峰值電流。

- 支援皮秒等級(pico sec.)解析度,來補獲DQS之間的時序狀態。

- 整合數據統計與分析統計,以加快驗證流程。

NAND的測試項目覆蓋

- Aging and endurance

- Retention

- Working window analysis 

- RBER monitor RBER

- Operation timing analysis

- Distribution analysis 

- Optimal read conditions 

- Error recovery flow trigger rates

- Suspend operations

- Vendor specific commands

- Bad blocks

- DQS timing margin analysis

- Power profiling

- Power fluctuation

- Timing characterization

如果您希望獲得更多關於NplusT所提供的NAND測試細節,歡迎隨時與我們聯繫。
 
 
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