2023.11.02_Introspect_高速DDR與LPDDR測試方案

 

 

 

       記憶體技術是半導體產業成長最快的領域,其密度、效率和傳輸速率持續快速提高。 在建構最新一代雙資料速率 (DDR) 記憶體介面時,開發人員在設計驗證和介面特性驗證階段面臨前所未有的挑戰。同時,DDR 介面採用單端訊號(Single-End),單一儲存裝置需要大量訊號走線; 另一方面,DDR4 和 DDR5 等最新標準需要極其精確的測量設置,並包括接收器應力要求。

 

Introspect Technology 的多通道高速訊號產生器和訊號分析儀解決方案非常適合 DDR4 和 DDR5 介面測試。我們的解決方案包含大量專門針對 DDR 應用進行調整的協定功能和實體層功能,可以完整地覆蓋DDR/LPDDR Tx端訊號量測分析與Rx端對於訊號接收能力的極限,並搭配協定分析儀進行指令封包以及傳輸數據的擷取與分析。

 

All  solutions  are  coupled  with  a  rich  set  of  probing  options.