2024.07.26_用於GDDR7特性和測試的 ATE 工作台

 

 

用於GDDR7特性和測試的 ATE 工作台

       Introspect technology M5512 GDDR7 記憶體測試系統平台是一款開創性的解決方案,可基於JEDEC GDDR7的積體電路進行特性化和功能測試。提供高速、雙向 PAM3 訊號、低速 NRZ 信號和完整的協議訓練能力,是幫助業界讓DRAM產品Time to Market的最佳工具。

 

  Key Features :

  • 完整的記憶體測試:連接到單一GDDR顆粒中的所有通道,從而提供所有通道的測試覆蓋範圍。
  • 可編程供電電源:精確編程對DRAM的供電和斷電流程。
  • 卓越的訊號完整性:世界級的頂針元件可在 PAM3 模式下以 40 Gbps 的速度運行。
  • 交流特性:PS等級解析度的時序與mV解析度 shmoo功能。

Access to every pin and every memory cell

Physical Layer Performance : 40Gbps PAM3 Eye Diagram