NAND 特性化測試與分析

   

       NplusT是一間擁有20年半導體和可靠性測試領域經驗的公司,幾年之內,該產品就成為眾多NAND製造商的參考平台,並不斷地針對新推出的NAND進行產品的優化以及規格的導入。此方案專為NAND特性而設計,可確保最高效能、與最低的設備成本。這樣的系統可以確保每個顆粒在封裝後,可以獨立的進行多樣性的測試安排,包含測試流程、測試條件、溫度、電壓、頻率。這樣的設計架構,讓工程師可以同時進行多個測試,這與傳統的套用相同測試條件進行平行測試概念完全不同。設備提供的加熱系統,讓NAND可以在進行測試時將溫度的變數一起加入到所有測試中,確保NAND的可靠度以及壽命與特性。

主要功能:

  •     Aging and endurance
  •     Retention
  •     Working window analysis
  •     RBER monitor
  •     Operation timing analysis
  •     Distribution analysis
  •     Optimal read conditions
  •     Error recovery flow trigger rates
  •     Suspend operations
  •     Vendor specific commands
  •     Bad blocks
  •     DQS timing margin analysis
  •     Power profiling
  •     Power fluctuation
  •     Timing characterization


應用場景:

  •     NAND characterization
  •     NAND lifetime extension
  •     ECC/LDPC analysis
  •     Reliability testing
  •     Incoming inspection
  •     Production lot qualification
  •     Media management validation