NplusT是一間擁有20年半導體和可靠性測試領域經驗的公司,幾年之內,該產品就成為眾多NAND製造商的參考平台,並不斷地針對新推出的NAND進行產品的優化以及規格的導入。此方案專為NAND特性而設計,可確保最高效能、與最低的設備成本。這樣的系統可以確保每個顆粒在封裝後,可以獨立的進行多樣性的測試安排,包含測試流程、測試條件、溫度、電壓、頻率。這樣的設計架構,讓工程師可以同時進行多個測試,這與傳統的套用相同測試條件進行平行測試概念完全不同。設備提供的加熱系統,讓NAND可以在進行測試時將溫度的變數一起加入到所有測試中,確保NAND的可靠度以及壽命與特性。
主要功能:
- Aging and endurance
- Retention
- Working window analysis
- RBER monitor
- Operation timing analysis
- Distribution analysis
- Optimal read conditions
- Error recovery flow trigger rates
- Suspend operations
- Vendor specific commands
- Bad blocks
- DQS timing margin analysis
- Power profiling
- Power fluctuation
- Timing characterization
應用場景:
- NAND characterization
- NAND lifetime extension
- ECC/LDPC analysis
- Reliability testing
- Incoming inspection
- Production lot qualification
- Media management validation